MS多波段整机测试系统一系列不同的辐射源可以用在投影系统中（光谱范围扩展到SWIR的光源或者MTB黑体）以及一系列SWIR用于投影系统中的靶标也可用于测量。
测量成像整机系统轴校准：电控的测试系统生成由被测试热像仪及相机生成的图像并计算两者之间的角度：a)热像仪在不同视场下的光轴；b)相机在不同镜头放大率下的光轴；c)热像仪与相机之间的光轴。激光系统轴对准：计算机控制的测量系统分析激光系统在激光敏感卡上生成的图像并计算光轴间的夹角：激光光轴（激光测距仪，激光指示器，激光照射器等）相对于成像系统光轴。注意：MS系统可以进行激光测距仪发射光轴的校准。这里假定激光测距仪发射光轴与接收已经调整好。这里可选测量激光测距仪的光轴对MS系统轴的能力。
测量SWIR相机：SIWR投影系统与图像分析计算机系统相结合来测量SIWR相机。它包括CDT反射式平行光管，SWIR光源，和一组SWIR靶标；测量不同图像格式的热像仪：当采用模拟视频采集卡并且测量分辨率小于等于756×576的25Hz的视频图像时；也可以选择数字图像采集卡（CameraLink,或GigE，或LVDS，USB2.0）作为测量高分辨率高帧频的数字输出传感器。 夜视新纪元，INFRAMET LAFT 热成像光电测试系统，基数参数优化，洞察秋毫！安徽热成像校准系统哪个好
UHT系列黑体是高温，腔式黑体，温度范围1550℃。黑体的特点在于发射腔的25mm的较大孔径。黑体发射体是使用底端封闭圆筒腔体的概念设计的。可以在0.2μm至超过200μm（可至500μm）的超宽光谱范围内中提供高发射率。这种超宽谱带使得可以将UHT黑体作为UV、可见光、红外波段和THz波段的标准辐射源。UHT黑体可以直接从内部键盘控制，也可以使用标准USB端口从PC远程控制。
25mm的较大孔径；提供从0.2到超过200的高发射率；可以内部键盘控制，也可以使用USB端口从PC远程控制。 安徽热成像校准系统哪个好科技守护，热成像校准系统，基数参数优化，安全尽在掌握！
MS300测试系统外观图MS系列系统是Inframet主要测试系统，可测量多种红外整机系统：热像仪，可见光-近红外相机，短波红外相机、激光测距机和多传感器测试系统等，进行系统的测试和轴对准的测试。
测试功能1.不同视场适用波段：可见光，近红外，短波红外，中波红外和长波红外；2.可测量多种红外整机系统：热像仪，可见光-近红外相机，短波红外相机、激光测距机和多传感器测试系统等；
MS多波段整机测试系统测量不同系统的原理如下。测试热像仪：图像投影仪投射图像到中波/长波范围热像仪，由计算机系统生成的图像分析被检测热像仪。高精度的离轴反射式CDT平行光管，TCB差分黑体，以及一组红外靶标用于投影。测试可见光/NIR相机：可见光/NIR投影系统与图像分析计算机系统相结合来测量电视相机。包括CDT反射式平行光管，可见光/NIR光源，和一组可见光靶标；
短波红外相机与TV/LLLTV相机计算机化测试系统，
半自动测试短波红外相机的重要参数；1）ModeI：分辨率，MRC（蕞小可分辨对比度），MTF（调至传递函数），Distortion（畸变），FOV（视场），灵敏度，SNR（信噪比），NEI（噪声等效输入），FPN（固定图形噪声），non-uniformity（非均匀性）等；2）ModeII：MRTD（蕞小可分辨温差，MDTD（蕞小可探测温差），MTF（调至传递函数），NETD（噪声等效温差），FPN（固定图形噪声）等；3）ModeIII：（MeanDetectivity（平均探测率），NoiseEquivalentIrradiance（噪声等效辐亮度），噪声，动态范围等。 智能校准，热成像更稳定，基数参数调整，守护安全每一刻！
在国际市场提供的典型面源黑体（包括Inframet提供的TCB/MTB黑体）被优化，以模拟在常用的红外辐射光谱带中的黑体目标：约1μm至约15μm。这种黑体的发射面的高发射率是通过温度受控的金属板，与其涂覆的高吸收性涂料薄层来实现。由于这种黑体的发射率在波长约0.1mm处开始下降，并且在波长超过约1mm变得非常低，所以典型的面源黑体不能用于模拟THz带（0.1mm至1mm）和亚THz带（1mm至10mm的波长）的黑体目标温度。在典型的红外黑体中使用的高辐射率涂层对于太赫兹光学辐射而言变得部分半透明，特别是在长波处大约0.5mm。提升热成像清晰度，NVS夜视设备多功能测试系统基数参数是关键，夜视新体验！重庆热成像校准系统设备
安全无死角，热成像校准系统，基数参数精确设定，守护更周全。安徽热成像校准系统哪个好
MTB系列黑体是精密的面源黑体，旨在模拟中温目标。使用一个薄的面加热元件来控制散热器温度。 黑体散热器的温度可以调节在约50摄氏度到550摄氏度之间。发射器面积可以从50x50mm到500x500 mm，具体取决于型号。
应用MTB黑体可用于一系列可能的应用：1、在中温范围内测量热像仪的精度（已知温度的面源）。
2、监控系统SWIR成像仪
3、用于测试SWIR/MWIRFPAs的系统
蕞高温度：典型的蕞高温度为550℃。如果不需要这样的温度，则最高温度可以降低到350℃，并且提供更好的热均匀性。 安徽热成像校准系统哪个好
