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质谱仪基本参数
  • 品牌
  • 赛默飞
  • 型号
  • 齐全
  • 类型
  • 火焰光度计,紫外可见光光度计,原子荧光光度计
质谱仪企业商机

质谱仪 重要的应用是分离同位素并测定它们的原子质量及相对丰度。测定原子质量的精度超过化学测量方法,大约2/3以上的原子的精确质量 是用质谱方法测定的。由于质量和能量的当量关系,由此可得到有关核结构与核结合能的知识。对于可通过矿石中提取的放射性衰变产物元素的分析测量,可确定矿石的地质年代。质谱方法还可用于有机化学分析,特别是微量杂质分析,测量分子的分子量,为确定化合物的分子式和分子结构提供可靠的依据。由于化合物有着像指纹一样的独特质谱,质谱仪在工业生产中也得到广泛应用。固体火花源质谱:对高纯材料进行杂质分析。可应用于半导体材料有色金属、建材部门;气体同位素质谱:对稳定同位素C、H、N、O、S及放射性同位素Rb、Sr、U、Pb、K、Ar测定,可应用于地质石油、医学、环保、农业等部门。质谱仪就选上海禹重实业有限公司,服务值得放心。闵行四极杆质谱仪色谱柱

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在极具挑战性的应用中表现突出,包括低水平PTM分析、使用同量异序标签进行多通路相对定量测定、完整蛋白表征以及使用新型ThermoScientific™OrbitrapFusion™Lumos™Tribrid™质谱仪对小分子进行MSn分析。该系统结合了极明亮的离子源、选择性和离子传输均得到改进的分段式四极杆滤质器、用于改进向ThermoScientific™Orbitrap™质量分析仪进行离子传输的先进真空技术,以及ETD片段化覆盖范围更宽的ETDHD。较新创新包括用于改进数据依赖实验的高级峰值测定(APD)算法和两个新硬件选项:UVPD是采用213nmUV光和1M分辨率实现的全新裂解技术,它提供了1,000,000FWHM的超高分辨率,用于改进同量异序化合物的结构解析和定量虹口赛默飞质谱仪价格上海禹重实业有限公司致力于提供质谱仪,欢迎您的来电哦!

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电感耦合等离子体ICP源的用途主要有四种:用于等离子体光谱诊断:通过分析ICP源的光谱来分析等离子体原子组分,参见电感耦合等离子体原子发射光谱(ICP-AES);电感耦合等离子质谱分析技术:作为质谱分析的离子源,分析组分(ICP-MS);用于反应离子刻蚀:通过ICP源产生低温等离子体,刻蚀材料表面,改变材料的物理与化学性质(ICP-RIE);气相沉积薄膜技术(rf-ICP)。是利用通过高频电感耦合产生等离子体放电的光源来进行原子发射光谱分析的方法。它是一种火焰温度范围为6000至10000K的火焰技术。该发射强度表示样品中元素的浓度。为一种新型激发光源,性能优异,应用 。

气相色谱仪分析仪器原理介绍禹重分享:1.紫外吸收光谱:缩写:UV;分析原理:吸收紫外光能量,引起分子中电子能级的跃迁;谱图的表示方法:相对吸收光能量随吸收光波长的变化;提供的信息:吸收峰的位置、强度和形状,提供分子中不同电子结构的信息。2.荧光光谱法:缩写:FS;分析原理:被电磁辐射激发后,从 单线激发态回到单线基态,发射荧光;谱图的表示方法:发射的荧光能量随光波长的变化;提供的信息:荧光效率和寿命,提供分子中不同电子结构的信息。上海禹重实业有限公司致力于提供质谱仪,有需求可以来电咨询!

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质谱仪 重要的应用是分离同位素并测定它们的原子质量及相对丰度。测定原子质量的精度超过化学测量方法,大约2/3以上的原子的精确质量是用质谱方法测定的。由于质量和能量的当量关系,由此可得到有关核结构与核结合能的知识。对于可通过矿石中提取的放射 性衰变产物元素的分析测量,可确定矿石的地质年代。质谱方法还可用于有机化学分析,特别是微量杂质分析,测量分子的分子量,为确定化合物的分子式和分子结构提供可靠的依据。由于化合物有着像指纹一样的独特质谱,质谱仪在工业生产中也得到广泛应用。固体火花源质谱:对高纯材料进行杂质分析。可应用于半导体材料有色金属、建材部门;气体同位素质谱:对稳定同位素C、H、N、O、S及放射性同位素Rb、Sr、U、Pb、K、Ar测定,可应用于地质石油、医学、环保、农业等部门。上海禹重实业有限公司为您提供质谱仪,欢迎您的来电!龙泉ICP-OES质谱仪配件

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电感耦合等离子体原子发射光谱法 ,也称为电感耦合等离子体光学发射光谱法 是利用通过高频电感耦合产生等离子体放电的光源来进行原子发射光谱分析的方法。它是一种火焰温度范围为6000至10000K的火焰技术。该发射强度表示样品中元素的浓度。为一种新型激发光源,性能优异,应用 。组成主要包括等离子体炬管、高频发生器(产生高频电流)、感应圈、供气系统和雾化系统。炬管由三层同心石英玻璃管组成。外管内切向通入的氩气为等离子体工作气或冷却气。中管通入的氩气为辅助气。内管中的氩气为载气,将试样气溶胶引入炬中。原子发射光谱法原子发射光谱法(英语:Atomic Emission Spectroscopy,缩写AES),是一种利用受激发气态原子或离子所发射的特征光谱来测定待测物质中元素组成和含量的方法。为光学分析中较早诞生的分析方法之一,其雏形在1860年代即已形成。闵行四极杆质谱仪色谱柱

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