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光学非接触应变测量基本参数
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光学非接触应变测量企业商机

在产业生态构建方面,研索仪器将发挥自身技术优势,推动 "产学研用" 协同创新网络的建设。通过与高校共建科研平台、与企业联合开发设备、与行业协会共建标准体系等方式,促进测量技术的标准化与规范化发展。公司将持续举办技术交流活动,分享前沿技术与应用案例,培育光学测量技术人才,推动整个行业的技术进步。在精密测量成为质量控制与创新研发核心竞争力的现在,光学非接触应变测量技术已从单纯的测试工具升级为推动技术进步的重要引擎。研索仪器科技(上海)有限公司凭借专业的技术引进、完善的产品布局、深度的技术整合与贴心的服务支撑,正带领中国光学非接触测量领域的发展方向。从微观材料研究到大型结构检测,从常规环境到极端条件,研索仪器正以精确的数据力量,助力中国科研突破与产业升级,在高质量发展的道路上持续赋能。光学非接触应变测量就找研索仪器科技(上海)有限公司!北京光学非接触式测量装置

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针对特殊测试场景,研索仪器提供了定制化解决方案。在介观尺度测量领域,µTS 介观尺度原位加载系统填补了纳米压头与宏观加载设备之间的技术空白,通过 DIC 技术与显微镜结合,可获取局部应变场的精细数据;面对极端环境需求,MML 极端环境微纳米力学测试系统能在真空环境下 - 100℃至 1000℃的温度范围内实现纳米级力学测试,攻克了恶劣条件下的测量难题。此外,红外 3D 温度场耦合 DIC 系统、3D Micro-DIC 显微测量系统等特色产品,进一步拓展了测量技术的应用边界。重庆VIC-3D数字图像相关系统哪里可以买到研索仪器系统擅长高温、高速、微小尺寸等复杂环境下的非接触应变表征。

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技术特点非接触性:避免接触式测量(如应变片)对被测物体的力学干扰,尤其适用于柔软材料、高温 / 低温环境、高速运动物体;高精度:应变测量精度可达 10⁻⁶~10⁻⁹量级,位移精度可达纳米级(激光干涉法)或微米级(DIC);全场测量:可同时获取被测物体表面任意点的应变 / 位移数据,而非单点测量,便于分析整体变形规律;适应性强:可用于高温、低温、高压、强腐蚀、高速运动等恶劣工况,兼容金属、复合材料、塑料、橡胶等多种材料。

光学非接触应变测量技术的广泛应用,正在重塑多个关键行业的研发与生产模式。研索仪器凭借其完善的产品体系与专业的技术服务,已在航空航天、汽车工程、土木工程、新能源等领域积累了大量案例,成为行业技术升级的重要推动者。在航空航天领域,安全性与轻量化是永恒的追求,研索仪器的测量技术为这一目标提供了精确保障。其 isi-sys 激光无损检测系统采用 Shearography/ESPI 技术,可对复合材料结构进行非破坏性强度检测,识别内部缺陷与分层损伤,无需拆解即可完成飞行器结构的安全评估。在飞机风洞试验中,VIC-3D 系统可实时测量不同攻角、风速条件下机翼的动态变形,获取关键部位的应变分布与振动特性,为机翼结构优化提供数据支撑。在火箭发动机涡轮叶片测试中,极端环境测量系统能够模拟高温高压工况,监测叶片在工作状态下的变形情况,确保发动机运行的可靠性。采用先进DIC/VIC技术,研索系统提供亚微米级非接触应变测量解决方案。

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作为当前主流的技术路径,数字图像相关(DIC)技术的工作流程已形成标准化范式:首先在被测物体表面制备随机散斑图案,这一图案如同 "光学指纹",为后续识别提供特征标记,可通过人工喷涂、光刻或利用材料自然纹理实现;随后采用高分辨率相机阵列同步采集变形前后的图像序列,捕捉每一个微小形变瞬间;通过零均值归一化互相关系数(ZNCC)等算法,追踪散斑在图像中的位移变化,经三维重建计算得到全场位移场与应变场数据。这种技术路径带来三大突破:其一,非接触特性消除了测量器件对测试系统的力学干扰,尤其适用于软材料、微纳结构等易损伤样品的测试;其二,全场测量能力实现了从 "点测量" 到 "面分析" 的跨越,单次测试可获取数百万个数据点,使变形分布可视化成为可能;其三,亚像素级测量精度突破了传统方法的极限,位移测量精度可达 0.01 像素,配合高分辨率相机可实现纳米级形变检测。这些优势让光学非接触测量成为解决复杂力学测试问题的方案。无需接触被测物,研索光学应变测量规避干扰,获取更真实材料力学响应。北京光学非接触式测量装置

研索仪器光学非接触应变测量系统有很好的环境兼容性,耐高温、腐蚀等恶劣条件(如发动机部件热变形测试)。北京光学非接触式测量装置

全息散斑干涉术:理论奠基与实验室验证全息散斑干涉术通过记录物体变形前后的全息图,利用干涉条纹提取位移信息。该技术理论上可实现波长量级的测量精度,但对防振平台、激光相干性等实验条件要求严苛,难以推广至工业现场。数字散斑相关法:计算光学驱动的工程化突破数字散斑相关法(即DIC的前身)通过数字图像处理替代全息记录,降低了系统复杂度。其关键创新在于引入亚像素位移搜索算法(如牛顿-拉夫逊迭代法),使测量精度突破像素级限制。现代DIC系统结合蓝光LED光源与高分辨率工业相机,在室温条件下即可实现0.01με(微应变)的测量精度,满足工程测试需求。北京光学非接触式测量装置

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