技术特点非接触性:避免接触式测量(如应变片)对被测物体的力学干扰,尤其适用于柔软材料、高温 / 低温环境、高速运动物体;高精度:应变测量精度可达 10⁻⁶~10⁻⁹量级,位移精度可达纳米级(激光干涉法)或微米级(DIC);全场测量:可同时获取被测物体表面任意点的应变 / 位移数据,而非单点测量,便于分析整体变形规律;适应性强:可用于高温、低温、高压、强腐蚀、高速运动等恶劣工况,兼容金属、复合材料、塑料、橡胶等多种材料。研索仪器VIC-3D非接触全场变形测量系统可用于科研实验复合材料分层失效研究,微电子封装焊点疲劳评估。海南哪里有卖VIC-2D非接触式测量系统

近年来,DIC技术向三维化与微型化演进。三维DIC通过双目视觉或多相机系统重建表面三维形貌,消除平面DIC因出平面位移导致的测量误差,在复合材料层间剪切测试中展现出独特优势。微型DIC则结合显微成像技术,实现微米级分辨率的应变测量,为MEMS器件、生物细胞力学研究提供利器。干涉测量以光波波长为基准,通过检测干涉条纹变化实现纳米级位移测量。根据干涉光路设计,可分为电子散斑干涉术(ESPI)、云纹干涉术与光纤干涉术等分支。湖南光学非接触式测量系统随着科技的不断进步,光学非接触应变测量技术正朝着更高精度、更复杂环境适应、更智能分析的方向演进。

作为美国 Correlated Solutions 公司(全球 DIC 技术创始者)的中国区合作伙伴,研索仪器构建了覆盖 "基础测试 - 特殊场景 - 行业定制" 的全维度产品体系,将国际技术与本土需求深度融合。其产品布局呈现出鲜明的多尺度、全工况适配特征,从微观材料分析到大型结构检测均能提供解决方案。在基础测量领域,VIC 系列产品构成了技术基石。VIC-2D 平面应变测量系统以超过 100 万数据点 / 秒的处理速度,支持光学畸变与 SEM 漂移校正,可在拉伸、压缩、弯曲等常规工况下快速输出平面应变云图,成为高校材料力学实验室的标准配置。VIC-3D 三维表面应变测量系统则通过双目立体视觉原理,实现了三维位移与应变场的同步测量,其行业前沿的精度与可重复性,可满足从金属材料到高分子复合材料的多样化测试需求。该系统搭载的先进算法不仅能输出位移、应变等基础参数,还可直接计算泊松比、杨氏模量等材料本构参数,为材料性能评估提供一站式数据支撑。
在材料力学性能评估、结构可靠性验证的科研与工业场景中,应变测量始终是关键技术支撑。传统接触式测量依赖应变片、引伸计等器件的物理接触,不仅易干扰测试载荷分布、损伤精密样品,更受限于 "单点采样" 的先天缺陷,难以捕捉复杂结构的全场变形规律。随着制造对测试精度的要求迈入微米级甚至纳米级,光学非接触应变测量技术凭借其独特优势实现跨越式发展。研索仪器科技(上海)有限公司(ACQTEC)深耕该领域十余年,以数字图像相关(DIC)技术为关键,构建起覆盖多尺度、全场景的测量解决方案体系,成为连接国际先进技术与中国产业需求的桥梁。研索仪器科技光学非接触应变测量,高速成像技术,实时呈现动态应变变化。

全息散斑干涉术:理论奠基与实验室验证全息散斑干涉术通过记录物体变形前后的全息图,利用干涉条纹提取位移信息。该技术理论上可实现波长量级的测量精度,但对防振平台、激光相干性等实验条件要求严苛,难以推广至工业现场。数字散斑相关法:计算光学驱动的工程化突破数字散斑相关法(即DIC的前身)通过数字图像处理替代全息记录,降低了系统复杂度。其关键创新在于引入亚像素位移搜索算法(如牛顿-拉夫逊迭代法),使测量精度突破像素级限制。现代DIC系统结合蓝光LED光源与高分辨率工业相机,在室温条件下即可实现0.01με(微应变)的测量精度,满足工程测试需求。光学非接触应变测量技术基于光学原理,通过分析物体表面在受力变形前后光学特性的变化来获取应变信息。重庆哪里有卖美国CSI非接触变形测量
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研索仪器的服务理念在教育科研领域得到了充分体现。公司荣膺达索系统 "行业贡献奖",这一荣誉正是对其在服务高校科研与教学数字化升级过程中表现的高度肯定。通过与高校共建联合实验室、参与科研项目攻关等方式,研索仪器不仅提供了先进的测量设备,更深度参与到科研过程中,为科研人员提供专业的技术指导,助力科研成果的快速转化。随着科技的不断进步,光学非接触应变测量技术正朝着更高精度、更复杂环境适应、更智能分析的方向演进。研索仪器将持续依托全球前沿的产品资源与本土化服务优势,在技术创新与行业应用两个维度不断突破,为中国科研创新与产业升级注入更强动力。海南哪里有卖VIC-2D非接触式测量系统