通用组合水平式检测干涉仪可用于计量检测，光学镜片检测、光学组件检测，手机背板和相机镜头检测，半导体晶圆检测，LED衬底蓝宝石检测，安防镜头和车载镜头检测，航空航天成像系统检测，超精密机械件检测，光学成像系统和衍射元件检测，纳米器件和MEMS检测，科研和高等教学仪器等众多领域。平面类（平面平晶、窗口玻璃、光学平面玻璃、金属平面、陶瓷平面等）光滑表面面形测量、一次测量后可同时显示多区域测量结果、光学平行度和材料均匀性的测量， 90°直角棱镜和角锥测量；球面类（凸面、凹面、不同F数）光滑表面面形测量。新则兴科技有限公司成立于2004年，自成立以来新则兴一直致力于成为客户信赖的实验室整体解决方案提供商!中山高性能无损检测口碑推荐
超声波扫描显微镜SAT又称为SAM。通过发射高频超声波传递到样品内部，在经过两种不同材质之间界面时，由于不同材质的声阻抗不同，对声波的吸收和反射程度的不同，进而采集的反射或者穿透的超声波能量信息或者相位信息的变化来检查样品内部出现的分层、裂缝或者空洞等缺陷。先进的声学显微成像的技术是诸多行业领域在各类样品中检查和寻找瑕疵的重要手段。在检查材料又要保持完整的样品时，这项非破坏性检测技术的优势尤为突出。主要用于研究、半导体、电子元件、陶瓷制品、树脂、汽车零部件、金属制品、MENS等领域。中山高性能无损检测口碑推荐深圳市新则兴科技有限公司，以质量的设备以及质量的服务，为客户提供全力的支持，助推客户质量提升!
荧光作用。X射线波长很短不可见，但它照射到某些化合物如磷、铂**钡、硫化锌镉、钨酸钙等时，可使物质发生荧光（可见光或紫外线），荧光的强弱与X射线量成正比。这种作用是X射线应用于透示的基础，利用这种荧光作用可制成荧光屏，用作透示时观察X射线通过人体组织的影像，也可制成增感屏，用作摄影时增强胶片的感光量；热作用。物质所吸收的X射线能大部分被转变成热能，使物体温度升搞，干涉、衍射、反射、折射作用。这些作用在X射线显微镜、波长测定和物质结构分析中都得到应用。
平面轮廓度和平面度是有质的区别。如果是曲面就不会有求平面度，应该是面轮廓度。就平面而言，面轮廓度和平面度也是有质的区别：平面度不带基准，面轮廓度会会带基准，如果不带基准的面轮廓度，是表示自身变化在一个中心线的下负公差里偏移。平面度就是一个面上报有点在理论高度上的最大值和最小值点的总和。面轮廓度描述曲面尺寸准确度的主要指标为轮廓度误差，它是指被测实际轮廓相对于理想轮廓的变动情况。面轮廓度是限制实际曲面对理想曲面变动量的一项指标，它是对曲面的形状精度要求。是实际被测要素（轮廓面线要素）对理想轮廓面的允许变动。描述曲面尺寸准确度的主要指标为轮廓度误差，它是指被测实际轮廓相对于理想轮廓的变动情况。平面度是指基片具有的宏观凹凸高度相对理想平面的偏差。深圳市新则兴科技有限公司，以质量的设备以及质量的服务，为客户提供全力的支持，助推客户质量提升。
HOOL型系列激光干涉仪以压电陶瓷驱动(PZT)标准平晶移动，从而产生多幅干涉图像，通过相移算法对数字化的相移干涉图进行处理分析，可以得到整个被测平晶面形的三维形貌图，突破高精度***测量闭环自检的难题，**终测量结果以整个被测平晶面形的峰谷值、均方根值为平面度指标。***的应用于计量检测、光学加工、高等教学仪器、光学成像系统和衍射元件测量、纳米薄膜现场检测和LED芯片制备等领域对波面检测的应用需求。 光波干涉法常利用平晶进行，图为测量所得的不同干涉条纹。图中a的干涉条纹是直的，而且间距相等，只在周边上稍有弯曲。这说明被检验表面是平的，但与光学平晶不平行，而且在圆周部分有微小的偏差。
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平面度是具有**量值传递系统的重要参数，平面度计量是几何量计量专业的重要分支之一，平是指基片具有的宏观凹凸高度相对理想平面的偏差。公差带是距离为公差值t的两平行平面之间的区域。平面度属于形位误差中的形状误差。激光干涉仪是公认的高精度检测方法，传统的平面度标准的干涉测量方法分为两种:等厚干涉和等倾干涉。但*通过单幅干涉条纹图或条纹的直径变化来表征平面度，不能充分的反应被测面的真实状况。虽然在一些干涉仪上应用三面互检法、四面互检法可以将精度稍再提高，但工作量大，测量时间较长。
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