接触式光刻曝光时掩模压在光刻胶的衬底晶片上，其主要优点是可以使用价格较低的设备制造出较小的特征尺寸。接触式光刻和深亚微米光源已经达到了小于0.1μm的特征尺寸，常用的光源分辨率为0.5μm左右。接触式光刻机的掩模版包括了要复制到衬底上的所有芯片阵列图形。在衬底上涂上光刻胶，并被安装到一个由手动控制的台子上，台子可以进行X、y方向及旋转的定位控制。掩模版和衬底晶片需要通过分立视场的显微镜同时观察，这样操作者用手动控制定位台子就能把掩模版图形和衬底晶片上的图形对准了。经过紫外光曝光，光线通过掩模版透明的部分，图形就转移到了光刻胶上。光刻胶的国产化公关正在各方面展开，在面板屏显光刻胶领域，中国已经出现了一批有竞争力的本土企业。东莞低线宽光刻
在光刻图案化工艺中，首先将光刻胶涂在硅片上形成一层薄膜。接着在复杂的曝光装置中，光线通过一个具有特定图案的掩模投射到光刻胶上。曝光区域的光刻胶发生化学变化，在随后的化学显影过程中被去除。较后掩模的图案就被转移到了光刻胶膜上。而在随后的蚀刻 或离子注入工艺中，会对没有光刻胶保护的硅片部分进行刻蚀，较后洗去剩余光刻胶。这时光刻胶的图案就被转移到下层的薄膜上，这种薄膜图案化的过程经过多次迭代，联同其他多个物理过程，便产生集成电路。湖南光刻工艺接触式曝光只适于分立元件和中、小规模集成电路的生产。
普通的光刻胶在成像过程中，由于存在一定的衍射、反射和散射，降低了光刻胶图形的对比度，从而降低了图形的分辨率。随着曝光加工特征尺寸的缩小，入射光的反射和散射对提高图形分辨率的影响也越来越大。为了提高曝光系统分辨率的性能，人们正在研究在曝光光刻胶的表面覆盖抗反射涂层的新型光刻胶技术。该技术的引入，可明显减小光刻胶表面对入射光的反射和散射，从而改善光刻胶的分辨率性能，但由此将引起工艺复杂性和光刻成本的增加。伴随着新一代曝光技术（NGL）的研究与发展，为了更好的满足其所能实现光刻分辨率的同时，光刻胶也相应发展。先进曝光技术对光刻胶的性能要求也越来越高。
光学邻近效应（Optical Proximity Effect，OPE）是指在光刻过程中，由于光线的传播和衍射等因素，导致图形边缘处的曝光剂厚度发生变化，从而影响图形的形状和尺寸。这种效应在微纳米加工中尤为明显，因为图形尺寸越小，光学邻近效应的影响就越大。为了解决光学邻近效应对图形形状和尺寸的影响，需要进行OPE校正。OPE校正是通过对曝光剂的厚度和曝光时间进行调整，来消除光学邻近效应的影响，从而得到更加精确的图形形状和尺寸。OPE校正可以通过模拟和实验两种方法进行，其中模拟方法可以预测OPE的影响，并优化曝光参数，而实验方法则是通过实际制作样品来验证和调整OPE校正参数。总之，光学邻近效应校正在光刻工艺中起着至关重要的作用，可以提高微纳米加工的精度和可靠性，从而推动微纳米器件的研究和应用。光刻技术的发展使得芯片的集成度不断提高，性能不断提升。
光刻工艺是半导体制造中重要的工艺之一，但其成本也是制约半导体产业发展的一个重要因素。以下是降低光刻工艺成本的几个方法：1.提高设备利用率：光刻机的利用率越高，每片芯片的成本就越低。因此，优化生产计划和设备维护，减少设备停机时间，可以提高设备利用率，降低成本。2.优化光刻胶配方：光刻胶是光刻工艺中的重要材料，其成本占据了整个工艺的很大比例。通过优化光刻胶配方，可以降低成本，同时提高工艺的性能。3.采用更高效的光刻机：新一代的光刻机具有更高的分辨率和更快的速度，可以提高生产效率，降低成本。4.采用更先进的光刻技术：例如，多重曝光和多层光刻技术可以提高光刻的分辨率和精度，从而减少芯片的面积和成本。5.优化光刻工艺流程：通过优化光刻工艺流程，可以减少材料和能源的浪费，降低成本。总之，降低光刻工艺成本需要从多个方面入手，包括设备利用率、材料成本、技术创新和工艺流程等方面。只有综合考虑，才能实现成本的更大化降低。光刻可能会出现显影不干净的异常，主要原因可能是显影时间不足、显影溶液使用周期过长。湖南光刻工艺
光刻技术可以制造出非常小的图案，更小可达到几十纳米。东莞低线宽光刻
光聚合型，可形成正性光刻胶，是通过采用了烯类单体，在光作用下生成自由基从而进一步引发单体聚合，较后生成聚合物的过程；光分解型光刻胶可以制成正性胶，通过采用含有叠氮醌类化合物的材料在经过光照后,发生光分解反应的过程。光交联型，即采用聚乙烯醇月桂酸酯等作为光敏材料，在光的作用下，其分子中的双键被打开，并使链与链之间发生交联，形成一种不溶性的网状结构，从而起到抗蚀作用，是一种典型的负性光刻胶。按照应用领域的不同，光刻胶又可以分为印刷电路板（PCB）用光刻胶、液晶显示(LCD）用光刻胶、半导体用光刻胶和其他用途光刻胶。PCB 光刻胶技术壁垒相对其他两类较低，而半导体光刻胶表示着光刻胶技术较先进水平。东莞低线宽光刻
