漏极场效应管测量方法

开关时间：场效应管从完全关闭到完全导通（或相反）所需的时间。栅极驱动电路的设计对开关时间有明显影响，同时寄生电容的大小也会影响开关时间，此外，器件的物理结构，也会影响开关速度。典型应用电路：开关电路：开关电路是指用于控制场效应管开通和关断的电路。放大电路：场效应管因其高输入阻抗和低噪声特性，常用于音频放大器、射频放大器等模拟电路中。电源管理：在开关电源中，场效应管用于控制能量的存储和释放，实现高效的电压转换。使用场效应管时，需要注意栅极电压的控制范围，以避免损坏器件。漏极场效应管测量方法

场效应晶体管（Field Effect Transistor缩写(FET)）简称场效应管。主要有两种类型：结型场效应管（junction FET—JFET)和金属 - 氧化物半导体场效应管（metal-oxide semiconductor FET，简称MOS-FET）。由多数载流子参与导电，也称为单极型晶体管。它属于电压控制型半导体器件。具有输入电阻高（107～1015Ω）、噪声小、功耗低、动态范围大、易于集成、没有二次击穿现象、安全工作区域宽等优点，现已成为双极型晶体管和功率晶体管的强大竞争者。漏极场效应管测量方法场效应管可通过控制栅极电压来调节输出电流，具有较好的线性特性。

C-MOS场效应管（增强型MOS场效应管），电路将一个增强型P沟道MOS场效应管和一个增强型N沟道MOS场效应管组合在一起使用。当输入端为低电平时，P沟道MOS场效应管导通，输出端与电源正极接通。当输入端为高电平时，N沟道MOS场效应管导通，输出端与电源地接通。在该电路中，P沟道MOS场效应管和N沟道MOS场效应管总是在相反的状态下工作，其相位输入端和输出端相反。通过这种工作方式我们可以获得较大的电流输出。同时由于漏电流的影响，使得栅压在还没有到0V，通常在栅极电压小于1到2V时，MOS场效应管既被关断。不同场效应管其关断电压略有不同。也正因为如此，使得该电路不会因为两管同时导通而造成电源短路。

场效应管的分类：场效应管分结型、绝缘栅型两大类。结型场效应管（JFET）因有两个PN结而得名，绝缘栅型场效应管（JGFET）则因栅极与其它电极完整绝缘而得名。它们由多数载流子参与导电，也称为单极型晶体管，属于电压控制型半导体器件。我们常说的MOS管就是绝缘栅型场效应管中的一种，它也是应用较普遍的一种，所以这一节接下的内容我们主要通过介绍MOS管来了解场效应晶体管。MOSFET有分为增强型和耗尽型两大类，增强型和耗尽型每一类又有NMOS和PMOS，和三极管中的PNP和NPN类似。IGBT结合了场效应管和双极晶体管的优点，适用于高电压和高频率的场合。

MOS管开关电路图：头一种应用，由PMOS来进行电压的选择，当V8V存在时，此时电压全部由V8V提供，将PMOS关闭，VBAT不提供电压给VSIN，而当V8V为低时，VSIN由8V供电。注意R120的接地，该电阻能将栅极电压稳定地拉低，确保PMOS的正常开启，这也是前文所描述的栅极高阻抗所带来的状态隐患。D9和D10的作用在于防止电压的倒灌。D9可以省略。这里要注意到实际上该电路的DS接反，这样由附生二极管导通导致了开关管的功能不能达到，实际应用要注意。使用场效应管时，应注意其温度特性，避免在高温或低温环境下使用影响其性能。漏极场效应管测量方法

场效应管的制造工艺不断改进，使得其性能更加稳定，可靠性更高。漏极场效应管测量方法

判断源极S、漏极D，将万用表拨至R×1k档分别丈量三个管脚之间的电阻。用交换表笔法测两次电阻，其中电阻值较低（一般为几千欧至十几千欧）的一次为正向电阻，此时黑表笔的是S极，红表笔接D极。因为测试前提不同，测出的RDS（on）值比手册中给出的典型值要高一些。丈量漏-源通态电阻RDS（on），在源-漏之间有一个PN结，因此根据PN结正、反向电阻存在差异，可识别S极与D极。例如用500型万用表R×1档实测一只IRFPC50型VMOS管，RDS（on）=3.2W，大于0.58W（典型值）。漏极场效应管测量方法