晶圆键合驱动智能感知SoC集成。CMOS-MEMS单片集成消除引线键合寄生电容，使三轴加速度计噪声密度降至10μg/√Hz。嵌入式压阻传感单元在触屏手机跌落保护中响应速度<1ms，屏幕破损率降低90%。汽车安全气囊系统测试表明，碰撞信号检测延迟缩短至25μs，误触发率<0.001ppm。多层堆叠结构使传感器尺寸缩小80%，支持TWS耳机精确运动追踪。柔性电子晶圆键合开启可穿戴医疗新纪元。聚酰亚胺-硅临时键合转移技术实现5μm超薄电路剥离，曲率半径可达0.5mm。仿生蛇形互联结构使拉伸性能突破300%，心电信号质量较刚性电极提升20dB。临床数据显示，72小时连续监测心律失常检出率提高40%，伪影率<1%。自粘附界面支持运动员训练，为冬奥会提供实时生理监测。生物降解封装层减少电子垃圾污染。晶圆键合革新高效海水淡化膜的纳米选择性通道构建工艺。江苏表面活化晶圆键合代工
晶圆键合通过分子力、电场或中间层实现晶圆长久连接。硅-硅直接键合需表面粗糙度<0.5nm及超洁净环境，键合能达2000mJ/m²；阳极键合利用200-400V电压使玻璃中钠离子迁移形成Si-O-Si共价键；共晶键合采用金锡合金（熔点280℃）实现气密密封。该技术满足3D集成、MEMS封装对界面热阻(<0.05K·cm²/W)和密封性(氦漏率<5×10⁻¹⁴mbar·l/s)的严苛需求。CMOS图像传感器制造中，晶圆键合实现背照式结构。通过硅-玻璃混合键合（对准精度<1μm）将光电二极管层转移到读out电路上方，透光率提升至95%。键合界面引入SiO₂/Si₃N₄复合介质层，暗电流降至0.05nA/cm²，量子效率达85%（波长550nm），明显提升弱光成像能力。
北京共晶晶圆键合工艺晶圆键合实现POCT设备的多功能微流控芯片全集成方案。
该研究所在晶圆键合与外延生长的协同工艺上进行探索，分析两种工艺的先后顺序对材料性能的影响。团队对比了先键合后外延与先外延后键合两种方案，通过材料表征平台分析外延层的晶体质量与界面特性。实验发现，在特定第三代半导体材料的制备中，先键合后外延的方式能更好地控制外延层的缺陷密度，而先外延后键合则在工艺灵活性上更具优势。这些发现为根据不同器件需求选择合适的工艺路线提供了依据，相关数据已应用于多个科研项目中，提升了半导体材料制备的工艺优化效率。
广东省科学院半导体研究所依托其材料外延与微纳加工平台，在晶圆键合技术研究中持续探索。针对第三代氮化物半导体材料的特性，科研团队着重分析不同键合温度对 2-6 英寸晶圆界面结合强度的影响。通过调节压力参数与表面预处理方式，观察键合界面的微观结构变化，目前已在中试规模下实现较为稳定的键合效果。研究所利用设备总值逾亿元的科研平台，结合材料分析仪器，对键合后的晶圆进行界面应力测试，为优化工艺提供数据支持。在省级重点项目支持下，团队正尝试将该技术与外延生长工艺结合，探索提升半导体器件性能的新路径，相关研究成果已为后续应用奠定基础。晶圆键合助力空间太阳能电站实现轻量化高功率阵列。
在异质材料晶圆键合的研究中，该研究所关注宽禁带半导体与其他材料的界面特性。针对氮化镓与硅材料的键合，团队通过设计过渡层结构，缓解两种材料热膨胀系数差异带来的界面应力。利用材料外延平台的表征设备，可观察过渡层在键合过程中的微观变化，分析其对界面结合强度的影响。科研人员发现，合理的过渡层设计能在一定程度上提升键合的稳定性，减少后期器件使用过程中的界面失效风险。目前，相关研究已应用于部分中试器件的制备，为异质集成器件的开发提供了技术支持，也为拓宽晶圆键合的材料适用范围积累了经验。晶圆键合在量子计算领域实现超导电路的极低温可靠集成。福建低温晶圆键合工艺
科研团队尝试将晶圆键合技术融入半导体器件封装的中试流程体系。江苏表面活化晶圆键合代工
硅光芯片制造中晶圆键合推动光电子融合改变。通过低温分子键合技术实现Ⅲ-Ⅴ族激光器与硅波导的异质集成，在量子阱能带精确匹配机制下，光耦合效率提升至95%。热应力缓冲层设计使波长漂移小于0.03nm，支撑800G光模块在85℃高温环境稳定工作。创新封装结构使发射端密度达到每平方毫米4个通道，为数据中心光互连提供高密度解决方案。华为800G光引擎实测显示误码率低于10⁻¹²，功耗较传统方案下降40%。晶圆键合技术重塑功率半导体热管理范式。铜-铜直接键合界面形成金属晶格连续结构，消除传统焊接层热膨胀系数失配问题。在10MW海上风电变流器中，键合模块热阻降至传统方案的1/20，芯片结温梯度差缩小至5℃以内。纳米锥阵列界面设计使散热面积提升8倍，支撑碳化硅器件在200℃高温下连续工作10万小时。三菱电机实测表明，该技术使功率密度突破50kW/L，变流系统体积缩小60%。 江苏表面活化晶圆键合代工
