EUV系统主要成像原理是光波波长为10～14nm的极端远紫外光波经过周期性多层膜反射镜投射到反射式掩模版上，通过反射式掩模版反射出的极紫外光波再通过由多面反射镜组成的缩小投影系统，将反射式掩模版上的集成电路几何图形投影成像到硅片表面的光刻胶中，形成集成电路制造所需要的光刻图形。目前EUV技术采用的曝光波长为13．5nm，由于其具有如此短的波长，所有光刻中不需要再使用光学邻近效应校正（OPC）技术，因而它可以把光刻技术扩展到32nm以下技术节点。2009年9月Intel首先次向世人展示了22nm工艺晶圆，称继续使用193nm浸没式光刻技术，并规划与EUV及EBL曝光技术相配合，使193nm浸没式光刻技术延伸到15和11nm工艺节点。影响光刻胶均匀性的参数：旋转加速度，加速越快越均匀；江苏光刻工艺
要发展光刻机并不是那么容易的事情，荷兰公司目前虽然能够生产出来更加先进的设备，但是这些设备也是由不同国家的中心部件组成。这其中有涉及到美国的光源，而光源是光刻机较为重要的中心设备，还有德国的镜片，瑞典的轴承等等，而这些较为关键的设备，都是禁运，所以也只能够慢慢发展中心部件供应商来解决这个问题。碳基芯片不需要光刻机那是否还需要光刻胶，对于这个问题来说，其实已经是显而易见的事情，那就是碳基芯片是不需要使用到光刻机设备的，因为还需要使用到光刻机，那么就没有研究碳基芯片的必要性了。江苏光刻工艺深紫外线坚膜使正性光刻胶树脂发生交联形成一层薄的表面硬壳，增加光刻胶的热稳定性。
在双重曝光工艺中，若光刻胶可以接受多次光刻曝光而不在光罩遮挡的区域发生光化学反应，就可以节省一次刻蚀，一次涂胶和一次光刻胶清洗流程。下图左展示了一次不合格的双重曝光过程。由于在非曝光区域光刻胶仍然会接受到相对少量的光刻辐射，在两次曝光过程后，非曝光区域接受到的辐射有可能超过光刻胶的曝光阈值E0，而发生错误的光刻反应。非曝光区域的光刻胶在两次曝光后接受到的辐射能量仍然小于其曝光阈值E0，从这个例子可以看出，与单次曝光不同，双重曝光要求光刻胶的曝光阈值和光刻光源的照射强度之间的权衡。
浸没光刻；在与浸没光刻相对的干法光刻中，光刻透镜与光刻胶之间是空气。光刻胶直接吸收光源发出的紫外辐射并发生光化学反应。在浸没光刻中，光刻镜头与光刻胶之间是特定液体。这些液体可以是纯水也可以是别的化合物液体。光刻光源发出的辐射经过这些液体的时候发生了折射，波长变短。这样，在不改变光源的前提条件下，更短波长的紫外光被投影光刻胶上，提高了光刻加工的分辨率。双重光刻；双重光刻的意思是通过两次光刻使得加工分辨率翻倍。实现这个目的的一种方法是在首先次光刻过后平移同一个光罩进行第二次光刻，以提高加工分辨率。ArF浸没式光刻技术在45nm节点上是大生产的主流技术。
光刻是平面型晶体管和集成电路生产中的一个主要工艺。是对半导体晶片表面的掩蔽物(如二氧化硅)进行开孔，以便进行杂质的定域扩散的一种加工技术。一般的光刻工艺要经历硅片表面清洗烘干、涂底、旋涂光刻胶、软烘、对准曝光、后烘、显影、硬烘、刻蚀、检测等工序。硅片清洗烘干方法：湿法清洗+去离子水冲洗+脱水烘焙（热板150～250C,1～2分钟，氮气保护）目的：a、除去表面的污染物（颗粒、有机物、工艺残余、可动离子）；b、除去水蒸气，使基底表面由亲水性变为憎水性，增强表面的黏附性（对光刻胶或者是HMDS-〉六甲基二硅胺烷）。电子束光刻一类是大生产光掩模版制造的曝光系统，另一类是直接在基片上直写纳米级图形的光刻系统。江苏光刻工艺
实际电子束曝光、显影后图形的边缘要往外扩展，这就是所谓的“电子束邻近效应。江苏光刻工艺
由于CAR光刻胶的光致酸剂产生的酸本身并不会在曝光过程中消耗而**作为催化剂而存在，因此少量的酸就可以持续地起到有效作用。CAR光刻胶的光敏感性很强，所需要从深紫外辐射中吸收的能量很少，较大加强了光刻的效率。CAR 光刻胶曝光速递是 DQN 光刻胶的10倍左右。从 90 年代后半期开始，光刻光源就开始采用 248nm 的 KrF 激光；而从 2000 年代开始，光刻就进一步转向使用193nm 波长的 ArF 准分子激光作为光源。在那之后一直到现在的约 20 年里，193nm 波长的 ArF 准分子激光一直是半导体制程领域性能较可靠，使用较普遍的光刻光源。江苏光刻工艺
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