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用数学模型和物理模型代替地下真实介质，通过计算机数值计算和物理实验，模拟模型的地震响应，得到理论地震记录的方法。地震模拟一般指正演模拟，主要分为数值模拟和物理模拟。我们来讲讲所谓的物理模拟。

用已知参数的材料做成一定几何形态的模型模拟地下地质结构，用超声波模拟地震波;压电陶瓷换能器模拟震源及检波器，将野外地震勘探施工过程在实验室内重现，获得模型地震记录。为使室内模拟观测的波场特征更接近实际，要求物理模型与野外地质模型满足相似性准则，即它们在几何关系、运动学与动力学上相似。(1)几何相似。要求模型的角度等于系统的角度，对应长度成比例。(2)运动学与动力学相似。要求实际系统与模型的速度比、密度比相似。地震模拟可用于研究勘探区内主要反射层的深度、反射波品质、多次波发育程度、能量衰减，预测地震方法应用的可行性，对比反射波相应的地质层位，识别多次波，提高地震资料构造解释与岩性解释的可靠性。它是地震资料人机联作解释的重要部分，无论对地震勘探的理论研究，还是指导生产都占有重要地位。地震试验测试的目的是什么？上海LED显示屏抗震地震

上海天梯检测技术有限公司机械环境包含：振动试验（随机振动,正扫频振动,定频振动）,模拟汽输车运试验,碰撞试验,机械冲击试验（半正弦波,方波,后峰锯齿波）,跌落试验(1m和1.5m),G值跌落,滚筒跌落试验（0.5m和1m),斜面冲击试验,堆码压力试验,水平挤压试验,温湿度 振动三综合试验,高加速寿命试验（HALT）,高加速应力筛选（HASS,HASA）,插拔寿命试验（插拔力,拔出力）,钢球冲击试验,按键寿命试验,点划寿命试验,软压试验,摇摆试验,铅笔硬度测试,耐磨擦测试,附着力测试,百格测试等；地震测试地震试验有哪些项目?

地震结构检测的标准： YD5083-2005《电信设备抗地震性能检测规范》 GR-63-CORE 《NEBSTM Requirement：Physical protection》 ETSI EN 300-019-2-3-2013 《环境工程(EE)；电信设备的环境条件和环境测试；第2-3部分：环境测试规范；有气候保护的场所的固定应用》 ETSI EN 300-019-2-4-2013 《环境工程(EE)；电信设备的环境条件和环境测试；第2-4部分：环境测试规范；无气候保护位置的固定应用》 NTT 《通信装置的耐震试验方法》 GB 50260-2013 《电力设施抗震设计规范》 HAFJ0053-1995《核电设备抗震鉴定试验指南》 GB/T 2424.25-2000 《电工电子产品环境试验 第3部分：试验导则 地震试验方法》

地震试验有多种分类方法. 1. 如以环境条件来划分,可分为包括各种应力条件下的模拟试验和现场试验; 2. 以试验项目划分,可分为环境试验、寿命试验、加速试验和各种特殊试验; 3. 若按试验目的来划分,则可分为筛选试验、鉴定试验和验收试验; 4. 若按试验性质来划分,也可分为破坏性试验和非破坏性试验两大类。 5. 但通常惯用的分类法,是把它归纳为五大类:A. 环境试验B. 寿命试验C. 筛选试验D. 现场使用试验E. 鉴定试验 1. 环境试验是考核产品在各种环境（振动、冲击、离心、温度、热冲击、潮热、盐雾、低气压等）条件下的适应能力,是评价产品地震的重要试验方法之一。所有地震测试可以用一个产品么？

上海天梯检测技术有限公司较新检测项目及标准 15、IP防护等级（外壳防护试验）： 外壳防护等级（IP代码）：GB 4208-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验R：水试验方法和导则：GB/T 2423.38-2008 16、低温/振动(正弦)综合试验： 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Z/AFc：散热和非散热试验样品的低温/振动(正弦)综合试验 GB/T 2423.35-2005 17、高温/振动(正弦)综合试验： 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Z/BFc：散热和非散热试验样品的高温/振动(正弦)综合试验 GB/T 2423.36-2005 18、温度（低温、高温）/低气压/振动（随机）综合试验： 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Z/ABMFh：温度（低温、高温）/低气压/振动（随机）综合 19、温度（低温、高温）/低气压/振动（正弦）综合试验： 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验：温度（低温、高温）/低气压/振动（正弦）综合 一般什么产品要做地震测试?上海LED显示屏抗震地震

地震测试操作的时候需要注意什么？上海LED显示屏抗震地震

上海天梯检测技术有限公司地震试验目的： 要包括高温试验、低温试验、温度快速变化试验、温度冲击试验、恒定温湿度试验、温湿度循环试验、盐雾试验、防水防尘试验、紫外老化试验和氙灯老化试验等。是考核产品在各种环境条件下的适应能力，是评价产品地震的重要试验方法之一。 低温试验 试验目的：用来考核试验样品在低温条件下贮存或使用的适应性。常用于产品在开发阶段的型式试验、元器件的筛选试验等。 试验设备：高低温(湿热)试验箱。 试验条件：一般选定一恒定的温度和试验时间。 推荐常用的温度有：- 65℃，-55℃，-40℃，-25℃，-10℃，-5℃，+5℃等; 推荐常用的试验时间有：2h，16h，72h，96h等。上海LED显示屏抗震地震

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