徕卡 M165显微镜类型体视显微镜(解剖镜)变倍比7:1(0.8×至5.6×)放大倍率-分辨率-转换器-载物台-光学系统-刻度尺-底座SZ2-ST标准底座：框架安装：安装直径76mm，旋钮旋转张力调节，调焦距离120mm；载物盘：SZ2-SPBW（黑白板），SP-C（透明玻璃）；光源：光纤照明系统，可安装SZ2-LGB（选配件），透射光照明，可安装附件SZ2-ILA（选配）。SZ2-ILSTLED反射/透射照明底座：框架安装：安装直径76mm，旋钮旋转张力调节，调焦距离120mm；载物盘：**玻璃盘，直径100mm；光源：透射照明：LED，反射照明：LED，平均LED寿命：6000小时，输入功率：100-120V/200-240V-0.15/0.1A，50/60Hz。深圳市新则兴科技有限公司，以质量的设备以及质量的服务，为客户提供全力的支持，助推客户质量提升！江西偏光显微镜型号
Leica DM6M高级全自动智能数字式正置金相显微镜，适合金属、陶瓷、高分子材料、电子元器件、粉尘颗粒等样品的观察分析，模块化设计，正置显微镜可实现反射观察、透反射观察配置。复消色差光路，整体光路支持25mm视野直径、6孔位电动物镜转盘，配接32mm直径工业物镜，内置电动调焦系统，精度0.015um，可实现全自动明场、暗场、偏光、干涉观察方式；数码显微镜机身内置12v100w的透、反射照明电源，智能光强变化的控制照明方式能自动记忆在不同物镜下和不同观察方式下光强，光阑大小及聚光镜的组合，自动恢复到位，操作简单快速。福州偏光显微镜解决方案显微镜还有助于科学家发现新物种。
Leica M205体视显微镜技术特点：通过采用FusionOptics™变焦，Leica显微系统建立了一个新的立体显微镜检查标准。曾经认为在光学领域不能实现的都可以通过实现。放大倍率为7.8X-160X，物镜0.63X-5X，以及众多可供选择的附件使得这一系统在任何应用中都有极好的表现。作为变倍比很高的立体显微镜，20.5：1的变倍比令您可以在同一台仪器上进行概览和细部观察。数值孔径0.35（带2X平场复消色差物镜）。徕卡M205立体显微镜的1050 lp/mm分辨率能够分辨小于472 nm的结构。光学器件经色差和平滑度修正，在观察、图像摄取或图像分析时，没有不希望见到的色缝或失真。
调整方法：a.在库勒照明系统调整好的基础上，用明视野方法把样品调焦清晰;b.把聚光镜转到Ph1对准转盘刻度线位置，选用10×相差物镜，换上待观察的透明样品;c.拔掉其中一个目镜，换上对中望远镜，并调焦于视野中的两个相差环上(物镜的黑色相差环和聚光镜的透光相差环);d.视野中的两个相差环不一定重合，调节聚光镜上的两个调节装置(调整相差环左右位置的调节杆和调整前后位置的摩擦式转钮)，使透光环作前后左右移动而与黑环重合;e.调整好后，换回观察用目镜，将绿色滤光片按入光路中，即可观察到样品的相差像;f.有20×和40×物镜观察时，聚光镜应设在Ph2位置上，用100物镜时，聚光镜应设在Ph3位置上。适用范围：适用于观察透明、未染色或不能染色的样品，如各种细胞、活组织、未染色或不染色的组织切片、水生生物等。 深圳市新则兴科技有限公司，以优良的设备以及良好的服务，为客户提供全力的支持，助推客户质量提升！
显微镜适用范围：透明或不能染色的组织切片，培养中的活组织和活细胞、小生物等。简称为落射荧光法，是近代显微镜检术中新发展出来的一种强有力的反差增强法。它将激发荧光用的光源改在物镜的上方，光由物镜上方经反光镜射入物镜去激发样品，从样品上被激发的荧光经物镜成像并穿透反光镜而由目镜观察。该方法较简便，效率高，50W的光源强度比透射荧光法的250W还强。荧光方法是利用波长较短的紫外光、紫光、蓝紫光、蓝光及绿光等去激发样品，只要样品中含有可产生荧光的成分，它便吸收短波的激发光而释放出波长较长的荧光。不同物质只能吸改特定波长的激发光，而释放的荧光也会有特定的波长，因而用作特异性的鉴定十分有效，如某些致病的细菌和螺旋体，受紫外光激发后能发出它们特有的荧光，很容易作出鉴定，这种利用物质吸收激发光后放出特有荧光的方法称为自发荧光法。某些物质自身不会吸收激发光，或吸收后不能释放荧光，但可以吸收或吸附特定的荧光色素或染料，而这些特定的荧光色素或染料也只能吸收特定的激发光，再释放出特定的荧光，从而间接地鉴别出某种物质，这称为间接荧光法。 工厂在品检、品控环节，涉及局部微小的细节，或检测要求精度较高，都要用到工业显微镜放大观察。福州偏光显微镜解决方案
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暗场（DF）是一种鲜为人知但功能强大的照明技术。暗场照明的光路穿过物镜的外部空心环，以高入射角落在样本上，从表面反射，然后穿过物镜的内部，然后到达目镜或照相机。这种类型的照明会导致平坦的表面看起来很暗，因为在高入射角处反射的绝大多数光都无法到达物镜的内部。对于具有平坦表面且具有少数非平坦特征（例如裂缝，气孔，蚀刻的晶界等）的样品，暗场图像显示深色背景，对应于非平坦特征的区域更亮，从而将更多的光散射到物镜中。
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