SiC探针台维修

提到探针台，大家应该会一头雾水，不知道探针台是干什么用的，下面就让小编来给大家普及一下探针台是干什么用的，供大家了解，希望能对大家有所帮助。探针台可以将电探针、光学探针或射频探针放置在硅晶片上，从而可以与测试仪器、半导体测试系统配合来测试芯片、半导体器件。这些测试可以很简单，例如连续性或隔离检查。也可以很复杂，包括微电路的完整功能测试。可以在将晶圆锯成单个管芯之前或之后进行测试。在晶圆级别的测试允许制造商在生产过程中多次测试芯片器件，这可以提供有关哪些工艺步骤将缺陷引入产品的信息。它还使制造商能够在封装之前测试管芯，这在封装成本相对于器件成本高的应用中很重要。探针台还可以用于研发、产品开发和故障分析应用。探针台可以固定晶圆或芯片，并准确定位待测物。手动探针台的使用者将探针臂和探针安装到操纵器中，并使用显微镜将探针顶端放置到待测物上的正确位置。一旦所有探针顶端都被设置在正确的位置，就可以对待测物进行测试。全自动探针台相比普通探针台添加了晶圆材料处理搬运单元（MHU）和模式识别（自动对准）。SiC探针台维修

低温探针台是用来无损检测样品的电性能，用于半导体、微电子、固体物理、超导等研究冷域，是研究材料的电阻率、磁电阻等各种物理特性的有力工具。稳定、可靠、方便的改变在很低的真空和温度下对器件和电路的探测。内置振动隔离，智能热管理，使用低排放的材料，先进的密封性，使该系统非常适合一系列需要更好的真空水平的应用，如石墨烯的研究，分子电子学等的，系统采用闭式循环制冷机和专有的热管理，可以经济快速的操作。内置的隔振小化振动符合行业标准。超稳定的微操纵满足设备探针的准确和可重复的接触。低温探针台集成系统有以下特点：1、在真空探针台下进行完整的霍尔效应测试的系统。2、支持一系列直流条件下霍尔效应测试。3、变温范围10k-400k，采用闭循环制冷机制冷，不需要消耗制冷剂。4、包含8400软件，可以做简单的系统操作、数据采集和分析。5、支持多载流子分析数据导出。低温真空探针台升级选购手动探针台的注意事项。

手动探针台的使用方式：1.将样品载入真空卡盘，开启真空阀门控制开关，使样品安全且牢固地吸附在卡盘上。2.使用卡盘X轴/Y轴控制旋钮移动卡盘平台，在显微镜低倍物镜聚焦下看清楚样品。3.使用卡盘X轴/Y轴控制旋钮移动卡盘平台将样品待测试点移动至显微镜下。4.显微镜切换为高倍率物镜，在大倍率下找到待测点，再微调显微镜聚焦和样品x-y，将影像调节清晰,带测点在显微镜视场中心。5.待测点位置确认好后,再调节探针座的位置,将探针装上后可眼观先将探针移到接近待测点的位置旁边,再使用探针座X-Y-Z三个微调旋钮,慢慢的将探针移至被测点,此时动作要小心且缓慢，以防动作过大误伤芯片，当探针针尖悬空于被测点上空时，可先用Y轴旋钮将探针退后少许，再使用Z轴旋钮进行下针，***则使用X轴旋钮左右滑动，观察是否有少许划痕，证明是否已经接触。6.确保针尖和被测点接触良好后，则可以通过连接的测试设备开始测试。

探针台是一种辅助执行机构，测试人员把需要量测的器件放到探针台载物台（chuck）上，在显微镜配合下，X-Y移动器件，找到需要探测的位置。接下来测试人员通过旋转探针座上的X-Y-Z的三向旋钮，控制前部探针（射频或直流探针），精细扎到被测点，从而使其讯号线与外部测试机导通，通过测试机测试人员可以得到所需要的电性能参数。探针台工作环境，探针台应放在坚固稳定的台面上，如地基有震动的情况，需要配置主动防震装置，避免在高温、潮湿、激烈震动、阳光直接照射和灰尘较多的环境下使用。使用比较好温度范围为5℃～40℃，比较好湿度是40%到85%，空气中之湿度若低于30%以下，可靠湿度控制器予以控制，使维持50%～60%之范围。使用时门窗尽可能关闭，使室内达到除湿效果    。使用电源：220V，50Hz各钟规格国产射频探针。

M系列探针台是我司一款基于高校教育与实验室而研发的基础型晶圆测试探针台。其结构紧凑，设计精密，价格实惠，在高等院校教学和小型实验室科研过程中得到运用。配合对应的仪器仪表，可以用于测试各类器件的IV/CV,PIV,光电信号等。也可以放置于手套箱内，配合特殊气氛使用。一般适用于学校和工厂小型实验室。产品优势：探针台与显示器一体化设计，大大减小了设备的占地空间具备自适应减震系统，一定程度上可防止外界震动的干扰U型平台镀镍设计，不仅增大了针座的加载空间，还提高了针座平台和针座之间的吸附力 探针台主要用于晶圆制造环节的晶圆检测、芯片研发和故障分析等应用。CV测试探针台规格尺寸

探针台搭配源表或者半导体参数分析仪进行电参数测试。SiC探针台维修

    探针台的工作原理1.探针台工作原理将待测物吸附在载物台上后推入探针台腔体内，利用探针座精密移动探针，通过显微镜的观察，将探针与待测物接触，然后将探针座上的电缆与仪表连接，通过自带的软件实现器件的参数测量和提取。结果方便保留对比查看。2.探针台功能通过连接仪器及待测物实现器件的参数提取，通过自带的驱动及测试软件能够实现器件的电学特性测试，为精密器件提供一个良好的系统平台，探针台可以搭配多种测试仪器使用，比如示波器，频谱仪，IV等等。3.探针台用途探针台主要应用于半导体行业、光电行业、集成电路以及封装的测试。广泛应用于复杂、高速器件的精密电气测量的研发，旨在确保质量及可靠性，并缩减研发时间和器件制造工艺的成本。芯片制造结束后即可在线测试，从源头即可监控。探针台用于对集成电路、三极管、二极管及光电探测器的IV/CV参数等性能测试与表征，是研究中不可缺少的基本设备。4.探针台系统性能指标可以实现通过软件对晶片载台X，Y，Z，探针台可搭载光纤，未来可升级满足光电测试载物台在XY方向：±1pm分辨率、小于2μm重复精度、大于50mm/sec的移动速度。 SiC探针台维修

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