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近场辐射基本参数
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近场成像实验与常规的近场散射实验相比,其明显差别就在于成像实验要进行扫频测量,这是理论所要求的。这样,测量系统就必须具备宽频带特性。发射、接收系统仪器的系统误差可以通过仪器自行校准进行消除,宽带发射、接收探头(天线)由于口径尺寸较大以及与目标之间的电磁耦合,所以对其发射、接收的电磁场必须进行修正,修正的方法是在它们发射、接收的电磁场中乘以复系数,系数的量值由理论值与测量值的比值来定。在此修正理论下,对金属长方体、圆柱体以及四尾翼导弹模型进行了实验测量,其成像结果是令人满意的。场的强度和天线的距离成反比(1/ r3)。西安手机近场辐射仪器

无功近场区:又称为电抗近场区,是天线辐射场中紧邻天线口径的一个近场区域。在该区域中,电抗性储能场占支配地位,该区域的界限通常取为距天线口径表面λ/2π处。从物理概念上讲,无功近场区是一个储能场,其中的电场与磁场的转换类似于变压器中的电场、磁场之间的转换,是一种感应场。辐射近场区:超过电抗近场区就到了辐射场区,辐射场区的电磁场已经脱离了天线的束缚,并作为电磁波进入空间。按照与天线距离的远近,又把辐射场区分为辐射近场区和辐射远场区。在辐射近场区中,辐射场占优势,并且辐射场的角度分布与距离天线口径的距离有关。对于通常的天线,此区域也称为菲涅尔区。郑州汽车电子近场辐射实验室在数学上的电场强度,可以被看作是两个部分的总和。

天线近场测量可以给出天线各个截面的方向图以及立体方向图,可以分析出方向图上的所有电参数(波束宽度、副瓣电平、零值深度、零深位置等)和天线的极化参数(轴比、倾角和旋向)以及天线的增益。辐射近场测量的研究起始于50年代,70年代中期处于推广应用阶段(商品化阶段)。目前,分布在世界各地的近场测量系统已有100多套。该技术的基本理论已基本成熟,这种测量方法的电参数测量精度比常规远场测量方法的测量精度要高得多,而且可全天候工作,并具有较高的保密性,因此,在民用中都显示出了它独特的优越性。

目标成像的研究已有几十年的历史了,其研究成果早已用于医学的X光诊断及雷达的目标识别。用近场研究目标的像是80年代末才开始的,它是在已知目标散射近场和入射场情况下,利用微波分集技术,逆推或反演表征目标几何特征的目标函数,由目标函数给出目标的几何形状,这一过程称为目标的近场成像。这种测量方法的另一致命弱点是测量时间很长,测量时间与取样点数几乎成四次方的关系,实用目标的测量时间达到了不可容忍的程度。测量环境对散射近场测量散射体电特性也有很大的影响,除了在测量区域附加吸收材料外,还需要用到“背景对消技术”,其基本原理为:在无散射体的情况下,先用收、发探头对测量区域空间扫描一次,并记录采样数据;在有散射体的情况下,记录这时扫描测量的采样数据,在保证一维扫描器(取样架)定位精度的条件下,利用计算机软件对两次对应位置的测量数据逐点进行矢量相减(复数相减),这样就消除了环境对测量数据的影响。近场是一个物理和化学条件急剧变化的复杂区域。

低副瓣或很低副瓣天线的测量,天线方向图副瓣电平在-28~-35 dB之间的天线称为低副瓣天线;副瓣电平小于-40 dB的天线称为很低副瓣天线。对它们的测量要用到“零探头”技术,据文献报导,副瓣电平在-40 dB以上时,测量精度为±3 dB,副瓣电平为-55 dB时,测量精度为±5 dB。天线口径场分布诊断是通过测量天线近区场的分布逆推出天线口径场分布,从而判断出口径场畸变处所对应的辐射单元,这就是天线口径分布诊断的基本原理。该方法对具有一维圆对称天线口径分布的分析是可靠的,尤其对相控阵天线的分析与测量已有了充分的可信度。虽然电磁场存在于天线周围,但他们会向外扩张。山东干扰源近场辐射系统价格

在该区域中,电抗性储能场占支配地位,该区域的界限通常取为距天线口径表面λ/2π处。西安手机近场辐射仪器

选择近场探头往往要考虑几个重要因素,包括分辨率 、灵敏度和频率响应等。近场探头的灵敏度不是一个一定的指标,关键是看探头和配合使用的频谱分析仪或者接收机能不能容易的测量到辐射泄漏信号,并且有足够的裕量去观察改进后的变化。如果频谱仪的灵敏度很高,我们可以选择灵敏度相对较低一些的探头。反之就必须选择灵敏度高的探头,甚至考虑外接前置放大器提高整体系统的灵敏度。分辨率也就是探头分辨干扰源位置的能力。而通常来说分辨率和灵敏度是一对矛盾体。以我们常用的环状磁场探头为例,尺寸越大的环状探头,灵敏度往往越高,测试面积越大,从而分辨率就会越低。而比较推荐的办法是选用一组多个尺寸的探头,在大范围测试的时候用较大的探头,找到疑似区域,再逐渐减小探头尺寸,终定位到干扰源。西安手机近场辐射仪器

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