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近场辐射基本参数
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近场辐射企业商机

众所周知,在离开被测目标3λ~5λ(λ为工作波长)距离上测量该区域电磁场的技术称为 技术。如果被测目标是 器,则称为辐射近场测量;若被测目标是 体,则称为散射近场测量;对测得散射体的散射近场信息进行反演或逆推就能得到目标的像函数,这就是目标近场成像。但是,截止目前为止,关于辐射、散射近场测量以及 溶为一体的综述性文章还未见到公开的报导,这对从事这方面研究的学者无疑是一种遗憾。为使同行们能全部地了解该技术的发展动态,该文概述了近几十年来关于辐射、散射近场测量及近场成像技术前人所做的工作及其新进展,并指出了未来研究的主要方向。辐射强度的衰减要比感应场慢得多。天津电磁波近场辐射扫描仪

测量方法的优点是通过一次测量可获得较多的信息量,利用这些信息可计算出金属导体目标散射的平面和空间的散射方向图以及它的散射极化特性;也可计算出该导体目标RCS的一定值,但在实际测量系统中,发射探头(提供照射源的探头)和接收探头是安装在同一个道轨上,因此,按照散射近场平面波扫描理论,发射探头扫描在一个位置时,接收探头需要在一维方向做一次扫描;发射探头扫描在另一个位置时,接收探头仍要在一维方向做一次扫描,发射探头位置不断向一个方向扫描,接收探头的扫描范围就会越来越小,因此,有一半的测量数据是得不到的,解决这一问题的方法是利用互易定理。西安天线近场辐射系统价格电场要比磁场强得多,对于电压低电流大的场源(如某些感应加热设备的模具),磁场要比电场大得多。

辐射近场测量的基本理论虽然已经成熟,且在实用中也取得了较多的研究成果,但对以下问题还应进行进一步的探讨研究:在前述的理论中,所有的理论公式都是在忽略多次散射耦合条件下而得出的,这些公式对常规天线的测量有一定的精度,但对低副瓣或很低副瓣天线测量就必需考虑这些因素,因此,需要建立严格的耦合方程。球面辐射近场测量能够计算除球心以外天线任意面上任意点的辐射场,但测量及计算时间都较长。柱面辐射近场测量能够计算天线全部面的辐射方向图,但在θ=-90°或90°时,柱面波展开式中汉克尔函数已无意义,所以,柱面辐射近场测量适用于天线方向图为扇形波束天线的测量。

虽然电磁场存在于天线周围,但他们会向外扩张,超出天线以外后,电磁场就会自动脱离为能量包单独传播出去。实际上电场和磁场互相产生,这样的“单独”波就是无线电波。距离天线一定范围内,电场和磁场基本为平面并以直角相交。注意传播方向和电磁场均成直角。在图2(a)中,传播方向和电磁场线方向成正交,即垂直纸面向内或向外。磁场线垂直纸面向外,如图中圆圈所示。对近场似乎还没有正式的定义,它取决于应用本身和天线。通常,近场是指从天线开始到1个波长(λ)的距离。近场成分指的立方衰减分量强度随距离(观测点的天线的距离)。

选择近场探头往往要考虑几个重要因素,包括分辨率 、灵敏度和频率响应等。近场探头的灵敏度不是一个一定的指标,关键是看探头和配合使用的频谱分析仪或者接收机能不能容易的测量到辐射泄漏信号,并且有足够的裕量去观察改进后的变化。如果频谱仪的灵敏度很高,我们可以选择灵敏度相对较低一些的探头。反之就必须选择灵敏度高的探头,甚至考虑外接前置放大器提高整体系统的灵敏度。分辨率也就是探头分辨干扰源位置的能力。而通常来说分辨率和灵敏度是一对矛盾体。以我们常用的环状磁场探头为例,尺寸越大的环状探头,灵敏度往往越高,测试面积越大,从而分辨率就会越低。而比较推荐的办法是选用一组多个尺寸的探头,在大范围测试的时候用较大的探头,找到疑似区域,再逐渐减小探头尺寸,终定位到干扰源。根据天线的种类,某一种场会成为主导。天津电磁波近场辐射扫描仪

在天线的各元件间生成了电场,极性每半个周期变换一次。天津电磁波近场辐射扫描仪

电场是由电压产生,主要的发射源包括一些未端接器件的线缆 、连接高阻器件的PCB 布线等。简单的电场探头类似一根小天线。有人甚至把同轴电缆前端的一小段屏蔽层剥开,露出芯线来构成简单的电场探头进行使用。在没有屏蔽设备的情况下,电场探头的问题是比较容易拾取到环境中存在的电磁波信号,如蜂窝通信的上下行信号,从而影响到整个测试系统的测量动态范围。因为磁场是由电流产生的,所以常见的发射源包括芯片,器件的管脚、PCB 上的布线、电源线及信号线缆。常见的磁场探头多为环状,当磁场传播线和探头环面垂直的时候,测量数值很大。所以在测量过程中,工程师一般需要旋转探头的方向来测量到很大的磁场数值,同时避免遗漏重要的发射源。天津电磁波近场辐射扫描仪

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