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近场辐射基本参数
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近场辐射企业商机

辐射近场扫频测量的研究,就一般情况而言,天线都在一个频带内工作,因此,各项电指标都是频率的函数,为了快速获得各个频率点的电指标,就需要进行扫频测量。扫频测量的理论与点频的理论完全一样,只是在探头扫描时,收发测量系统作扫频测量。时域辐射近场测量的研究,为了反映脉冲工作状态和消除环境及其他因素对测量数据的影响,时域测量是一个良好的解决此类问题的途径,但目前处于研究阶段。前述的辐射近场测量方法都需要测量出近场的相位和幅度,才能利用近场理论计算出天线的远场电特性,为了简化计算公式和测量系统以及降低测量时间与测量的相位误差(在频率f很高的情况下,即f>80 GHz,相位的测量误差是很大的),于是,有学者提出只用近场测量值的幅度来重建天线远场的方法。例如环形天线主要是磁场,环形天线就如同变压器的初级,因为它产生的磁场很大。郑州干扰源近场辐射检测

辐射近场测量方法都需要测量出近场的相位和幅度,才能利用近场理论计算出天线的远场电特性,为了简化计算公式和测量系统以及降低测量时间与测量的相位误差(在频率f很高的情况下,即f>80 GHz,相位的测量误差是很大的),于是,有学者提出只用近场测量值的幅度来重建天线远场的方法。该方法的基本思想为[10]:测出S1,S2两个面的幅度值(A1,A2),人为选定S1面测量值的相位(φ1),先由S1面的幅度、相位值(A1,φ1)计算出S2面的幅度、相位值(a2,φ2),用A2代替a2,再由A2,φ2求出S1面的a1,φ1,用A1代替a1,重新由A1,φ1求出S2面新的a2,φ2,如此迭代下去,直至A1-a1≤ε,A2-a2≤ε(ε为测量精度),便可得到S1或S2面的相位分布,这时,可由S1或S2实测的幅度和迭代过程所得到的相位求得天线的远场电特性。由于迭代收敛等原因,这方面的研究还未付诸实施。郑州消费电子近场辐射解决方案近区场通常具有如下特点:近区场内,电场强度与磁场强度的大小没有确定的比例关系。

和磁场不一样,电场是因为移动或者静电荷产生的。通过这种方式,当感受到散热片或者金属外壳上的电磁波的时候,电场会影响并改变磁场。这种电场效应也会倾向于改变离源头更远的地方(即远场)。因为环境因素例如无线电台,wifi或者是人为的干扰射频信号,远场测量更容易出现错误。远场测量,比如说某个兼容测试的信号发射部分的表现测量,会比近场测量需要更复杂的设备和更丰富的知识。通过测量由导体产生的电磁场的相位和频率,我们可以找出导致EMI问题的高电势点。

天线近场测量可以给出天线各个截面的方向图以及立体方向图,可以分析出方向图上的所有电参数(波束宽度、副瓣电平、零值深度、零深位置等)和天线的极化参数(轴比、倾角和旋向)以及天线的增益。辐射近场测量的研究起始于50年代,70年代中期处于推广应用阶段(商品化阶段)。目前,分布在世界各地的近场测量系统已有100多套。该技术的基本理论已基本成熟,这种测量方法的电参数测量精度比常规远场测量方法的测量精度要高得多,而且可全天候工作,并具有较高的保密性,因此,在民用中都显示出了它独特的优越性。虽然电磁场存在于天线周围,但他们会向外扩张。

柱面辐射近场测量能够计算天线全部面的辐射方向图,但在θ=-90°或90°时,柱面波展开式中汉克尔函数已无意义,所以,柱面辐射近场测量适用于天线方向图为扇形波束天线的测量。球面辐射近场测量能够计算除球心以外天线任意面上任意点的辐射场,但测量及计算时间都较长。辐射近场测量的基本理论虽然已经成熟,且在实用中也取得了较多的研究成果,但对以下问题还应进行进一步的探讨研究:考虑探头与被测天线多次散射耦合的理论公式。所有的理论公式都是在忽略多次散射耦合条件下而得出的,这些公式对常规天线的测量有一定的精度,但对低副瓣或很低副瓣天线测量就必需考虑这些因素,因此,需要建立严格的耦合方程。近区场的电磁场强度随距离的变化比较快,在此空间内的不均匀度较大。西安电磁波近场辐射检测

一般情况下,对于电压高电流小的场源(如发射天线、馈线等)。郑州干扰源近场辐射检测

低频电磁辐射检测仪的应用:电脑、电视机、打印机、传真机、空调、冰箱、音响、洗衣机、电线、电源、等在仪器测试技术指标内的用电、通电、供电等所有电磁辐射源。总结:低频电磁辐射检测仪的优势及应用小编就分享到这里了,看完本文您就应该有了基本的认识和了解相信大家都明白了吧!总的来说,希望对大家有所帮助。设备可同时显示电场和磁场强度,自动量程切换,主机标配大内存,一键保存测量数据,亦可自定义时间间隔自动保存测量数据,自动数据趋势曲线绘制,可选配电压输出功能,连接外部示波器和频谱分析仪,实现高级分析功能。郑州干扰源近场辐射检测

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