辐射近场测量方法都需要测量出近场的相位和幅度，才能利用近场理论计算出天线的远场电特性，为了简化计算公式和测量系统以及降低测量时间与测量的相位误差（在频率f很高的情况下，即f＞80 GHz，相位的测量误差是很大的），于是，有学者提出只用近场测量值的幅度来重建天线远场的方法。该方法的基本思想为［10］：测出S1，S2两个面的幅度值（A1，A2），人为选定S1面测量值的相位（φ1），先由S1面的幅度、相位值（A1，φ1）计算出S2面的幅度、相位值（a2，φ2），用A2代替a2，再由A2，φ2求出S1面的a1，φ1，用A1代替a1，重新由A1，φ1求出S2面新的a2，φ2，如此迭代下去，直至A1-a1≤ε，A2-a2≤ε（ε为测量精度），便可得到S1或S2面的相位分布，这时，可由S1或S2实测的幅度和迭代过程所得到的相位求得天线的远场电特性。由于迭代收敛等原因，这方面的研究还未付诸实施。在该区域中，电抗性储能场占支配地位，该区域的界限通常取为距天线口径表面λ/2π处。武汉干扰源近场辐射实验室
目标成像的研究已有几十年的历史了，其研究成果早已用于医学的X光诊断及雷达的目标识别。用近场研究目标的像是80年代末才开始的，它是在已知目标散射近场和入射场情况下，利用微波分集技术，逆推或反演表征目标几何特征的目标函数，由目标函数给出目标的几何形状，这一过程称为目标的近场成像。这种测量方法的另一致命弱点是测量时间很长，测量时间与取样点数几乎成四次方的关系，实用目标的测量时间达到了不可容忍的程度。测量环境对散射近场测量散射体电特性也有很大的影响，除了在测量区域附加吸收材料外，还需要用到“背景对消技术”，其基本原理为：在无散射体的情况下，先用收、发探头对测量区域空间扫描一次，并记录采样数据；在有散射体的情况下，记录这时扫描测量的采样数据，在保证一维扫描器（取样架）定位精度的条件下，利用计算机软件对两次对应位置的测量数据逐点进行矢量相减（复数相减），这样就消除了环境对测量数据的影响。深圳干扰源近场辐射实验室一般情况下，对于电压高电流小的场源(如发射天线、馈线等)。
近场成像实验与常规的近场散射实验相比，其明显差别就在于成像实验要进行扫频测量，这是理论所要求的。这样，测量系统就必须具备宽频带特性。发射、接收系统仪器的系统误差可以通过仪器自行校准进行消除，宽带发射、接收探头（天线）由于口径尺寸较大以及与目标之间的电磁耦合，所以对其发射、接收的电磁场必须进行修正，修正的方法是在它们发射、接收的电磁场中乘以复系数，系数的量值由理论值与测量值的比值来定。在此修正理论下，对金属长方体、圆柱体以及四尾翼导弹模型进行了实验测量，其成像结果是令人满意的。
平面散射近场测量的基本理论已由文献［12～15］给出。其基本原理是综合平面波法，综合平面波的基本思想为：如果对一个由N个辐射单元组成的线阵同时进行激励，每个辐射单元产生一个准球面波e（θ，φ），选择一个与方向角（θ，φ）有关的权函数W（θ，φ）对每个e（θ，φ）进行加权并求和（线性系统），则所得的加权求和函数近似为均匀平面波，对不同方向的（θ，φ）选择不同W（θ，φ）就可以获得不同方向上的平面波对被测目标的照射。这一过程实现了对平面波的综合（这与综合口径雷达SAR的概念极为相似），并很容易在计算机上完成。近场成分指的立方衰减分量强度随距离（观测点的天线的距离）。
近场探头是用于配合频谱分析仪查找干扰源的设备。在认证机构中，使用经过各类校准的天线进行辐射泄露测试，都是进行的远场测量。标准的远场辐射泄漏测试，可以准确定量的告诉我们被测件是否符合相应的 EMI 标准。但是远场测试无法告诉工程师，严重的辐射问题到底是来自于壳体的缝隙，还是来自连接的电缆，或USB ，LAN 之类的通信接口。在这种情况下，我们可以通过近场测试的方法来定位辐射的真正来源。电磁场是由电场和磁场构成。在近场，电场和磁场共同存在，其强度不构成固定关系。以电场为主还是磁场为主，主要是由发射源的类型决定的。简而言之，在高电压，低电流的区域，电场大于磁场。高电流，低电压的区域，磁场大于电场。同时在主要的EMI 测试频段，磁场随着距离的变化要快于电场。近场和远场的边界、运行频段的波长。西安消费电子近场辐射扫描仪
对于通常的天线，辐射近场区此区域也称为菲涅尔区。武汉干扰源近场辐射实验室
无功近场区：又称为电抗近场区，是天线辐射场中紧邻天线口径的一个近场区域。在该区域中，电抗性储能场占支配地位，该区域的界限通常取为距天线口径表面λ/2π处。从物理概念上讲，无功近场区是一个储能场，其中的电场与磁场的转换类似于变压器中的电场、磁场之间的转换，是一种感应场。辐射近场区：超过电抗近场区就到了辐射场区，辐射场区的电磁场已经脱离了天线的束缚，并作为电磁波进入空间。按照与天线距离的远近，又把辐射场区分为辐射近场区和辐射远场区。在辐射近场区中，辐射场占优势，并且辐射场的角度分布与距离天线口径的距离有关。对于通常的天线，此区域也称为菲涅尔区。武汉干扰源近场辐射实验室
扬芯科技（深圳）有限公司位于大浪街道新石社区华联工业区28号1202，是一家专业的扬芯科技(深圳)有限公司成立于2018年11月01日，注册地位于深圳市龙华区大浪街道新石社区华联工业区28号1202，法定代表人为杨红波。经营范围包括一般经营项目是：通讯设备、汽车零部件、消费电子产品的集成电路、元器件设计与开发；自动化检测系统集成及解决方案的开发、销售及技术咨询；国内贸易、货物及技术进出口。公司。致力于创造***的产品与服务，以诚信、敬业、进取为宗旨，以建扬芯科技,扬芯产品为目标，努力打造成为同行业中具有影响力的企业。公司不仅*提供专业的扬芯科技(深圳)有限公司成立于2018年11月01日，注册地位于深圳市龙华区大浪街道新石社区华联工业区28号1202，法定代表人为杨红波。经营范围包括一般经营项目是：通讯设备、汽车零部件、消费电子产品的集成电路、元器件设计与开发；自动化检测系统集成及解决方案的开发、销售及技术咨询；国内贸易、货物及技术进出口。，同时还建立了完善的售后服务体系，为客户提供良好的产品和服务。自公司成立以来，一直秉承“以质量求生存，以信誉求发展”的经营理念，始终坚持以客户的需求和满意为重点，为客户提供良好的近场辐射问题解决方案，辐射抗扰度问题解决方案，辐射杂散预测试系统，射频干扰问题解决方案，从而使公司不断发展壮大。
