LPCVD设备的设备构造主要包括以下几个部分：真空系统、气体输送系统、反应室、加热系统、温度控制系统、压力控制系统、流量控制系统等。LPCVD设备的发展趋势主要有以下几点：（1）为了降低衬底材料的热损伤和热预算，提高沉积速率和产能，开发新型的低温LPCVD方法，如等离子体增强LPCVD（PE-LPCVD）、激光辅助LPCVD（LA-LPCVD）、热辐射辅助LPCVD（RA-LPCVD）等；（2）为了提高薄膜材料的质量和性能，开发新型的高纯度和高结晶度的LPCVD方法，如超高真空LPCVD（UHV-LPCVD）、分子束外延LPCVD（MBE-LPCVD）、原子层沉积LPCVD（ALD-LPCVD）等；（3）为了拓展薄膜材料的种类和功能，开发新型的复合和异质的LPCVD方法，如多元化合物LPCVD、纳米结构LPCVD、量子点LPCVD等。镀膜层能明显提升产品的耐磨性。中山纳米涂层真空镀膜
对于典型的半导体应用，基板被放置在两个平行电极之间的沉积室中一个接地电极，通常是一个射频通电电极.前体气体如硅烷(SiH4)和氨(NH3)通常与惰性气体如氩气(Ar)或氮气(N2)混合以控制过程。这些气体通过基板上方的喷头固定装置引入腔室，有助于将气体更均匀地分布到基板上。等离子体由电极之间的放电(100–300eV)点燃，在基板周围发生启辉，有助于产生驱动化学反应的热能。前体气体分子与高能电子碰撞，然后通过气流传播到基板，在那里它们发生反应并被吸收在基板表面上以生长薄膜。然后将化学副产品抽走，完成沉积过程。河南金属真空镀膜镀膜过程需在高度真空环境中进行。
LPCVD设备中的薄膜材料的质量和性能可以通过多种方法进行表征和评价。常见的表征和评价方法有以下几种：（1）厚度测量法，是指通过光学或电子手段来测量薄膜的厚度，如椭圆偏振仪、纳米压痕仪、电子显微镜等；（2）成分分析法，是指通过光谱或质谱手段来分析薄膜的化学成分，如X射线光电子能谱（XPS）、二次离子质谱（SIMS）、原子发射光谱（AES）等；（3）结构表征法，是指通过衍射或散射手段来表征薄膜的晶体结构，如X射线衍射（XRD）、拉曼光谱（Raman）、透射电子显微镜（TEM）等；（4）性能测试法，是指通过电学或力学手段来测试薄膜的物理性能，如电阻率、介电常数、硬度、应力等。
在真空状态下，加热蒸发容器中的靶材，使其原子或分子逸出，沉积在目标物体表面，形成固态薄膜。依蒸镀材料、基板的种类可分为：抵抗加热、电子束、高周波诱导、雷射等加热方式。蒸镀材料有铝、亚铅、金、银、白金、镍等金属材料与可产生光学特性薄膜的材料，主要有使用SiO2、TiO2、ZrO2、MgF2等氧化物与氟化物。电子在电场的作用下加速飞向基片的过程中与氩原子发生碰撞，电离出大量的氩离子和电子。氩离子在电场作用下加速轰击靶材，溅射出大量的靶原子，靶原子沉积在基片表面形成膜。二次电子受到磁场影响，被束缚在靶面的等离子体区域，二次电子在磁场作用下绕靶面做圆周运动，在运动过程中不断和氩原子发生撞击，电离出大量氩离子轰击靶材。真空镀膜设备需定期进行维护保养。
介质薄膜是重要的半导体薄膜之一。它可用作电路间的绝缘层，掩蔽半导体主要元件的相互扩散和漏电现象，从而进一步改善半导体操作性能的可靠性；它还可用作保护膜，在半导体制程的环节生成保护膜，保护芯片不受外部冲击；或用作隔离膜，在堆叠一层层元件后进行刻蚀时，防止无需移除的部分被刻蚀。浅槽隔离（STI，ShallowTrenchIsolation）和金属层间电介质层（就是典型的例子。沉积材料主要有二氧化硅（SiO2），碳化硅（SiC）和氮化硅（SiN）等。衡量沉积质量的主要指标有均匀度、台阶覆盖率、沟槽填充程度。三亚真空镀膜
影响PECVD成膜质量的主要有：1.样片表面清洁度差；2.工艺腔体清洁度差；3.样品温度异常；中山纳米涂层真空镀膜
LPCVD设备中常用的是水平式LPCVD设备，因为其具有结构简单、操作方便、沉积速率高、产能大等优点。水平式LPCVD设备可以根据不同的加热方式进行分类。常见的分类有以下几种：（1）电阻丝加热式LPCVD设备，是指使用电阻丝作为加热元件，将电阻丝缠绕在反应室外壁或内壁上，通过电流加热反应室和衬底；（2）卤素灯加热式LPCVD设备，是指使用卤素灯作为加热元件，将卤素灯安装在反应室外壁或内壁上，通过辐射加热反应室和衬底；（3）感应加热式LPCVD设备，是指使用感应线圈作为加热元件，将感应线圈围绕在反应室外壁或内壁上，通过电磁感应加热反应室和衬底。中山纳米涂层真空镀膜
