半导体设备的技术壁垒高。随着半导体行业的迅速发展，半导体产品的加工面积成倍缩小，复杂程度与日俱增，生产半导体产品所需的制造设备需要综合运用光学、物理、化学等科学技术，具有技术壁垒高、制造难度大及研发投入高等特点。半导体器件生产中，从半导体单晶片到制成成品，须经历数十甚至上百道工序。为了确保产品性能合格、稳定可靠，并有高的成品率，根据各种产... 【查看详情】

X系列探针台：1、基板采用铸件为基准进行设计，使运动的稳定性得到提升，底板的重量同样在隔震性能上得到提高。2、运动系统采用的是日系高刚性、高精密的导轨和丝杆；反馈检测系统采用的是0.1μm分辨率光栅尺配合进口运动控制卡与电机形成整个闭环的反馈检测，以保证实现高精度高温度性的运动系统。3、整个四维运动设计成低重心的紧凑结构，保证其速率能到达... 【查看详情】

大理石光学平台磨损需请专业技术人员处理。温度对检测成果影响很大，工件的精密检测需要使工件和大理石检测平台都在20℃的情况下进行检测。通常可在室温下进行检测，但是需要使工件与大理石检测平台的温度一样，不然，由于金属材料的热胀冷缩的特性，使检测成果不准。温度对大理石检测平台精度的影响也很大，不应放在阳光下，由于温度增加后，也量不出准确尺度。光... 【查看详情】

光学平台是提供一个水平、稳定的台面，供各种光学组件放置的实验平台。一般平台都需要进行隔振等措施，保证其不受外界因素干扰，使科学实验正常进行。光学平台隔振原理：①系统包括光学台面和隔振腿。可放置仪器并对振动进行控制，台面是隔振系统中重要的一部分，其主要作用是提供一个无相对形变的刚性平台，当有振动源传递到桌面时，桌面蜂窝结构和阻尼... 【查看详情】

手动探针台应用领域：Failureanalysis集成电路失效分析；Waferlevelreliability晶元可靠性认证；Devicecharacterization元器件特性量测；Processmodeling塑性过程测试(材料特性分析)；ICProcessmonitoring制成监控；PackagepartprobingIC封装阶... 【查看详情】

光学实验平台普遍使用的振动响应传递函数为柔量。在恒定（静态）力的情况下，柔量可以定义为线性或角度错位与所施加外力的比值。在动态变化力（振动）的情况下，柔量则可以定义为受激振幅（角度或线性错位）与振动力振幅的比值。平台的任意挠度都可以通过安装在平台表面的部件相对位置变化表现出来。因此，根据定义，柔量值越小，光学平台就越接近设计的首要目标：将... 【查看详情】

固有频率，顾名思义，为系统本身发生的振动的频率。数值上来看，固有频率等于共振频率。考虑物块与弹性悬臂梁组成的系统，固有频率取决于两个因素——物块质量，以及充当弹簧的弹性悬臂梁的弹性系数。质量减小或弹性系数减小可增大固有频率;质量增大或悬臂梁弹性系数增大可降低固有频率。实验室或厂房内可能存在的振动源，包括地表的振动(固有频率10-20Hz)... 【查看详情】

在设备方面，生产半导体测试探针的相关设备价格较高，国内厂商没有足够的资金实力，采购日本厂商的设备。另一方面，对于半导体设备而言，产业链各个环节均会采购定制化的设备，客户提出自身需求和配置，上游设备厂商通过与大型客户合作开发，生产出经过优化的适合该客户的设备。因此，即使国产探针厂商想采购日本设备厂商的专业设备，也只能得到标准化的产品。在原材... 【查看详情】

探针台的分类：探针台可以按照使用类型与功能来划分，也可以按照操作方式来划分成：手动探针台、半自动探针台、全自动探针台。手动探针台：手动探针台系统顾名思义是手动控制的，这意味着晶圆载物台和卡盘、压盘、显微镜以及定位器/操纵器都是由使用者手动移动的。因此一般是在没有很多待测器件需要测量或数据需要收集的情况下使用手动探针台。该类探针台的优点之一... 【查看详情】

如何判断探针卡的好坏：1.可以用扎五点来判断，即上中下左右，五点是否扎在压点内，且针迹清楚,又没出氧化层,针迹圆而不长且不开叉.2.做接触检查,每根针与压点接触电阻是否小于0.5欧姆.3.通过看实际测试参数来判断,探针与被测IC没有接触好，测试值接近于0。总之，操作工只要了解了探针卡故障的主要原因：1.探针氧化.2.针尖有异物(铝粉，墨迹... 【查看详情】

近来出现的一种选择是使用同轴射频电缆安装探针，它结合了探针台准确性和可重复性的功能以及用探针可及性的功能。这些探针的边缘类似于探针台探针夹具——接地-信号-接地（GSG）或者接地-信号（GS）——一端带有pogo-pin探针，另一端带有典型的同轴连接器。这些新型探针可以达到40GHz，回波损耗优于10dB。探针的针距范围在800微米到15... 【查看详情】

晶圆级半自动面内磁场探针台详细参数：垂直或面内磁场探针台，通用性设计；容纳12寸晶圆，且向下兼容8寸、6寸、碎片；兼容4组探针（RF或DC测试）；提供Z轴探针平台快速升降功能，实现高效测试；磁场强度≥330mT;直流探针（4组）或微波探针（4组）；XY电控行程±150mm，调节精度2μm；T轴手动调节±5°，小至调节精度5’。晶圆级半自动... 【查看详情】