芯片激光分类

半导体业的铜引线封装越来越成为发展主流，传统的化学开封已无法完全满足铜引线封装的开封要求。激光开封机的诞生给分析领域带来了新的技术。

激光开封机特点：

1、对铜引线封装有很好的开封效果

2、对复杂样品的开封极为方便

3、可重复性、一致性极高

、电脑控制开封形状、位置、大小、时间等，操作便利

5、对环境及人体污染伤害较小，安全性高

6、几乎没有耗材，使用成本很低

7、体积较小，容易摆放

激光开封机是怎么操作的？开封，开盖，开帽，指给完整封装的IC做局部腐蚀，使得IC可以暴露出来，同时保持芯片功能的完整无损，保持 die，bond pads，bond wires乃至lead-frame不受损伤，为下一步芯片失效分析实验做准备，方便观察或做其他测试（如FIB，EMMI）， Decap后功能正常。 激光应用之激光成像；芯片激光分类

半导体激光器失效机理与案例分析：

2）欧姆接触如果芯片和焊料存在较大的热失配，激光器在焊接或工作时会导致材料界面产生应力集中，进而引起焊料开裂或芯片裂损。此外，在焊接激光器时，芯片和焊料间存在焊接空隙会导致激光器发生失效，同时焊接中的焊料溢出也易导致PN结短路。

3）腔面退化腔面退化是激光器区别于其他微电子器件的一个失效模式。由于激光器有源区材料中含有Al或In元素，且当芯片设计制造工艺均匀性或一致性较差时，Al、In元素在高功率工作下会发生融化或再结晶，导致腔面出现杂质或缺陷，从而使该区域温度不断升高，面的电流密度继续增大导致该区域温度进一步升高，终导致灾变光学损伤。

4）环境污染环境污染是导致半导体激光器失效的外界因素，主要原因为灰尘、水汽、离子污染物等颗粒进入半导体激光器内部，附着在芯片表面引起短路或开路，导致器件失效。 芯片激光分类超快激光脉冲微加工的明显特征是透明材料的内部微加工。

常见、有代表性的激光应用之激光成像医疗应用：近期，华科大某团队通过改变激光散斑成像的探测方式，极大提升了激光散斑成像对厚组织的成像能力，使得源于血管层的动态散斑信号强于静态散斑信息，从而提升了血流探测的信背比。

常见、有代表性的激光应用之激光测速：对被测物体进行两次有特定时间间隔的激光测距，取得在该时段内被测物体的移动距离，从而得到被测物体移动速度。

常见、有代表性的激光应用之激光测距：包括飞行时间法（TOF）、干涉法、三角法。三种方法由于测距原理不同，导致测距性能各不相同，如测量距离、精度等。飞行时间法常用于远距离测距，测量距离在20km以上；三角法和干涉法多用于近距离测距，由于干涉法的测距精度高，多用于精密仪器的检测。

日本HOYACANDEOOPTRONICS的激光系列-世界认同等级修正用之激光HSL-4000系列HSL-5000系列无论在设计，制造上HOYA采用比较先进的光学技术HOYA光学技术的结晶彻底追求加工稳定度的较好品质小型YAG激光系统HSL-4000II系列/HSL-5000II系列以HOYA特有的高度光学技术活用于设计、制造上，创造出比较好可多段多变功率输出且高稳定性的激光装置。能同时实现微细加工与高输出能量的大面积加工之激光系统从比较小0.5μm到比较大300μm，对半导体及FPD金属薄膜的微细加工到ColorFilter的大面积加工都可以对应。另外，比较大频率可到50Hz，也可用在各种应用层面上。保养及维修的特性灯泡容易替换激光微加工形成方式；

激光打标机常见的五种故障分析：

激光打标机出现问题的时候，如果不能及时解决问题将会影响到产品的交付时间，虽然激光打标机的维修是比较麻烦的，但是它的原理是较简单的，有很多问题是可以自行解决而不需要专业技术人员维修的，下面就是激光打标机常见的五种故障。

1．激光打标机的标识图案发白解决方法：检查模压速度是否太慢、模压温度是否太高。

2．激光打标机的标识图案局部不清晰解决办法：检查模压版的厚度是否均匀，模压压力是否太小，温度是否过低，机器精度是否下降。工艺控制要点：模压版厚度误差应控制在0．O01mm以内，硬度应保持在230—280N／mm。因为全息图是通过给模压辊施加一定的压力而模压出干涉条纹，如果模压版的硬度不够，在压印的过程中内应力会使模压版变形或损坏。 微纳加工-激光掩模版的作用；光掩膜版激光供应

半导体激光器失效模式；芯片激光分类

激光机常见故障以及解决方法：六、电脑不能输出1、检查软件参数设置是否正常（重新设置）；2、雕刻机是否先按定位起动再输出（重新输出）；3、检查机器是否事先没复位（重新更正）；4、检查输出串口是否与软件设置串口一致（重新设置）；5、检查地线是否可靠，静电是否干扰数据线（重新接地）；6、更换电脑串口输出测试；7、重新安装软件并重新设置测试；8、格式化电脑系统盘重新安装软件测试；9、主板串口损坏需维修或更换。七、电脑常见问题1、字体逐渐减少（重新安装操作系统）；2、数据量太大不能计算激光路径（等待一段时间或加大电脑内存）；3、计算路径长时间没响应，重新启动电脑测试芯片激光分类

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